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QRM-MicroCT-BarPattern-NANO分辨率測試卡，內含兩個3mm×3mm硅質芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點狀圖樣，度規格為：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.

Cirs 016A-BR12分辨率測試卡,016A-BR12高分辨率線對卡只需一次曝光即可對乳房 X 線攝影系統分辨率進行 QC 檢查！

JIMA RT RC-04分辨率測試卡是一種用于設置和測試微焦X射線系統的光刻生產的測試模式

JIMA RT RC-05B分辨率測試卡是一款采用半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。它用于校準和監控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 µ m至50 µ m）的分辨率。這對應于6微米和100微米（6 µ m和100 µ m）之間的焦斑尺寸。

USAF 1951分辨率測試卡,光學成像系統的分辨率指該系統能否分開兩個靠近的點或物體細節的能力，通常以每毫米可以識別的線對數（lp/mm）來表示光學成像系統分辨率的大小

QRM-MicroBar測試模體，QRM QRM-MicroBar測試卡內含兩個3mm×3mm硅質芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點狀圖樣，度規格為：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.

MicroCT-Barpattern-NANO分辨率測試卡，MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測試卡，采用雙硅芯片相互垂直、通過塑料支架固定的設計理念，使兩個3 x 3 mm²芯片均呈現數組線狀或點狀圖樣，寬度和直徑從1µm到10µm不等。

JIMA（日本檢測儀器制造商協會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA RT RC-05分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。

QRM QRM-MicroBar分辨率測試卡 內含兩個3mm×3mm硅質芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點狀圖樣，度規格為：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.